Regensburg 2002 – wissenschaftliches Programm
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DS: Dünne Schichten
DS 27: Postersitzung
DS 27.27: Poster
Dienstag, 12. März 2002, 15:30–17:30, Poster Physik B
Schichtdickenabhängigkeit der optischen und magnetooptischen Eigenschaften von epitaktischen CrPt3-Filmen — •M. Broschwitz, S. Knetsch, A. Borgschulte, L. Bizdoaca und J. Schoenes — Institut für Halbleiterphysik und Optik, TU Braunschweig, Mendelssohnstr. 3, D-38106 Braunschweig
Die optischen Eigenschaften von dünnen Metallfilmen unterscheiden sich oftmals von bulk-Werten. Zur Überprüfung der Schichtdickenabhängigkeit wurden keilförmige CrPt3-Proben hergestellt, bei denen an verschiedenen Orten der Probe Ellipsometrie und Kerr-Effekt-Messungen durchgeführt wurden. Für Schichtdicken unter 20 nm nimmt die magnetooptische Kerr-Rotation stark ab, was auf Substrateinflüsse zurückzuführen ist. Die Reflektivität der Probe zeigt ein Maximum bei ca. 50 nm Schichtdicke. Die Abnahme insbesondere des Extinktionskoeffizenten zu geringeren Dicken hin wird im Rahmen des Maxwell-Garnett-Modells erklärt. Für große Schichtdicken ergibt sich eine deutliche Abnahme des Reflexionsgrads. Die Ursache ist ein Aufreißen des Films unter Formation von makroskopischen Inseln, wie anhand von AFM-Aufnahmen gezeigt wird.