Regensburg 2002 – wissenschaftliches Programm
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O: Oberflächenphysik
O 13: Postersitzung (Adsorption an Oberfl
ächen, Elektronische Struktur, Magnetismus in reduzierten Dimensionen, Epitaxie und Wachstum, Halbleiteroberfl
ächen und -grenzfl
ächen, Organische Dünnschichten)
O 13.7: Poster
Montag, 11. März 2002, 18:00–21:00, Bereich C
Ethylen und Sauerstoff auf rauen Cu-Filmen untersucht mit IR- und Raman-Spektroskopie — •M. Sinther1, C. Siemes2, A. Bruckbauer2, A. Otto2 und A. Pucci1 — 1Kirchhoff-Institut für Physik, Universität Heidelberg, Albert-Ueberle-Str. 3-5, D-69120 Heidelberg — 2Institut für Physik der kondensierten Materie, Universität Düsseldorf, Universitätsstr. 1, D-40225 Düsseldorf
Oberflächenverstärkte Linien von Ethylen auf kryokondensierten Kupferfilmen auf KBr in Infrarot-Transmission (IRT) treten bei den Frequenzen der infrarotaktiven Moden und, aufgrund eines "first layer effects", auch bei denen der oberflächenverstärkten Ramanmoden (RM) auf. Die Auswahl der Moden erfolgt durch dynamischen Elektronentransfer. Sauerstoff-vorbegaste raue Kupferfilme auf KBr zeigen in IRT Ethylenspezies mit verschobenen oberflächenverstärkten RM und unverschobenen infrarotaktiven Banden, während die Ramanspektren von Ethylen auf sauerstoffbegasten atomar rauen Cu-Filmen nur die unverschobenen Multilagen-RM zeigen. Dies kann durch die in IRT und Ramanspektroskopie unterschiedlichen Beiträge der Elektron-Photon-Kopplung im Inneren und an der Oberfläche eindeutig erklärt werden. Die Verschiebung der oberflächenverstärkten RM in IRT hängt vermutlich mit der aufgrund der besonderen Rauhigkeit der Cu-Filme auf KBr-Einkristallen erleichterten Oxidation zusammen.