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O: Oberflächenphysik

O 34: Organische Dünnschichten

O 34.11: Vortrag

Donnerstag, 14. März 2002, 18:00–18:15, H45

Untersuchung von strukturierten SAMs mit einem SFG Mikroskop — •D.M.P. Hoffmann, K. Kuhnke und K. Kern — Max-Planck-Institut für Festkörperforschung D-70569 Stuttgart www.mpi-stuttgart.mpg.de/kern

Das Konzept eines Mikroskops wird erläutert, das es ermöglicht, undurchsichtige Proben mittels Summenfrequenzerzeugung (SFG) abzubilden. SFG-Mikroskopie erlaubt oberflächenempfindliche Schwingungsspektroskopie und damit die chemisch-selektive Abbildung von Adsorbatmonolagen auf Oberflächen. Wir zeigen die Abbildung von strukturierten, selbstordnenden Monolagen (SAMs) auf Gold Substraten. Dabei diskutieren wir die lokale Information, die man durch Änderung der Frequenz des SFG Signals über die chemische Zusammensetzung und die Ordnung der Schicht erhält.