Regensburg 2002 – wissenschaftliches Programm
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O: Oberflächenphysik
O 39: Nanostrukturen (II)
O 39.8: Vortrag
Freitag, 15. März 2002, 13:00–13:15, H44
Tight Binding Modell zur Spitze-Probe Wechselwirkung in der Rasterkraftmikroskopie — •Christian Laschinger1, Thilo Kopp1, Franz J. Giessibl1, Volker Eyert2 und Jochen Mannhart1 — 1Universität Augsburg EKM EP 6, 86135 Augsburg — 2Universität Augsburg TP 2, 86135 Augsburg
Die ständige Verbesserung der Abbildungsverfahren in der Rasterkraftmikroskopie hat in letzter Zeit zu einer Optimierung der erzielbaren Auflösung geführt. So wurden von Giessibl et al. subatomare Strukturen in der Si(111)-7x7 Oberfläche gefunden[1]. Die Deutung dieser Bilddaten beruht auf einer einfachen Annahme über die Spitzengeometrie. Wir diskutieren die Modellierung der Spitze-Probe Wechselwirkung und bestimmen das Energieprofil im Rahmen eines Tight-Binding-Ansatzes.
[1] F. Giessibl, S. Hembacher, H. Bielefeldt, and J. Mannhart. Subatomic Features on the Silicon(111)-(7x7) Surface Observed by Atomic Force Microscopy. Science 289, 422, 2000.