Dresden 2003 – wissenschaftliches Programm

Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

DY: Dynamik und Statistische Physik

DY 27: Growth processes and interface features II

DY 27.2: Vortrag

Dienstag, 25. März 2003, 17:00–17:15, G\"OR/229

Oberflächenaufrauhung laserdeponierter Polymerschichten — •Jörg Hachenberg¹, Christoph Streng¹, Erik Süske², Sebastian Vauth¹, Hans-Ulrich Krebs² und Konrad Samwer¹ — ¹I. Physikalische Institut, Universität Göttingen, Bunsenstr. 9, 37073 Göttingen — ²Institut für Materialphysik, Universität Göttingen, Windausweg 2, 37073 Göttingen

Mit dem Rasterkraftmikroskop (AFM) wird die Entwicklung der Oberflächenrauhigkeit als Funktion der Schichtdicke und des Verkippungswinkels während der Deposition untersucht. Die Schichtpräparation erfolgt durch gepulste Laserdeposition (PLD) von Bisphenol-A-(BPA)-Polymer-Targets bei Raumtemperatur und unter UHV-Bedingungen. Dabei wird das Polymer fragmentiert und auf Siliziumsubstrate abgeschieden. Der Vergleich mit Computersimulationen und theoretischen Erwartungen liefert gute Übereinstimmungen: Die Rauhigkeitsentwicklung folgt einer Schichtdickenabhängigkeit mit dem Rauhigkeitsexponenten 1/4. Dies konnte auch schon bei amorphen, metallischen Systemen beobachtet werden, allerdings auf anderen Skalen: Die 1/4-Abhängigkeit wird bei Polymerschichten im Bereich von einigen nm bis zu mehr als 1 µ m beobachtet. Dieses Projekt wird gefördert durch die DFG, SFB 602, TP B3.