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O: Oberflächenphysik
O 12: Postersitzung (Struktur und Dynamik reiner Oberfl
ächen, Grenzfl
äche fest-flüssig, Nanostrukturen, Teilchen und Cluster, Halbleiteroberfl
ächen und Grenzfl
ächen, Zeitaufgelöste Spektroskopie, Rastersondentechniken, Methodisches)
O 12.39: Poster
Montag, 24. März 2003, 18:00–21:00, P1
Aperturlose Nahfeldmikroskopie an anisotropen dielektrischen Systemen — •Susanne Schneider, Stefan Grafström, Christian Loppacher, Ulrich Zerweck und Lukas Eng — Institut für Angewandte Photophysik, TU Dresden, D-01062 Dresden
Die Nahfeldmikroskopie ermöglicht die optische Untersuchung unterhalb des klassischen Beugungslimits. Speziell die aperturlose Nahfeldmikroskopie (engl. Scattering Scanning Near-field Optical Microscopy S-SNOM) ist in ihrer Auflösung nur durch die Ausdehnung der streuenden Spitze begrenzt.
Modellrechnungen zur Untersuchung von anisotropen dielektrischen Systemen mittels S-SNOM werden vorgestellt und können eine Kontrastentstehung zwischen Bereichen mit unterschiedlichen Brechungsindexellipsoiden erklären. Solche Bereiche treten z.B. zwischen den experimentell untersuchten a- und c-Domänen in Bariumtitanat (BaTiO3), aber auch innerhalb von ferroelektrischen Domänenwänden auf. Darüber hinaus stellen diese Berechnungen eine wichtige Grundlage zur hochauflösenden optischen Untersuchung dielektrischer Materialien dar, sind mikroskopisch gesehen doch nahezu alle Materialien optisch anisotrop.