Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe
O: Oberflächenphysik
O 12: Postersitzung (Struktur und Dynamik reiner Oberfl
ächen, Grenzfl
äche fest-flüssig, Nanostrukturen, Teilchen und Cluster, Halbleiteroberfl
ächen und Grenzfl
ächen, Zeitaufgelöste Spektroskopie, Rastersondentechniken, Methodisches)
O 12.57: Poster
Montag, 24. März 2003, 18:00–21:00, P1
FT-IR Synchrotron Ellipsometrie für die Untersuchung kleiner anisotroper Proben — •M Gensch1, K Hinrichs1, U Schade2, N Esser3, A Röseler1 und E.H. Korte1 — 1ISAS Institutsteil Berlin, Albert-Einstein-Str. 9, D-12489 Berlin-Adlershof — 2BESSY II, Albert-Einstein-Str. 15, 12489 Berlin-Adlershof — 3TU Berlin, Institut für Festkörperphysik, Hardenbergstr. 36, 10623 Berlin
Im mittleren infraroten Spektralbereich liegen die Absorptionsbanden der meisten molekülspezifischen Schwingungen. Mit der Auswertung ellipsometrischer Spektren in diesem Spektralbereich können Aussagen über die Struktur und die Vorzugsorientierung von Molekülen in organischen Filmen getroffen werden [1].
Um das Nachweisvermögen für die Infrarot (IR)-spektroskopische Untersuchung dünnster organischer Filme und kleiner Proben zu erhöhen, wurde am Infrarotstrahlrohr IRIS bei BESSY II ein Ellipsometer installiert, das mit einer angepassten Optik die Eigenschaften der Synchrotronstrahlung (kleine Quellgröße, kleiner Öffnungswinkel) optimal nutzt. Das Ellipsometer wurde so konzipiert, daß eine UHV Kammer mit Kryostaten in den Aufbau implementiert werden kann. Das Potential der Methode für die Untersuchung der Anisotropie dünner Filme wird anhand von untersuchten Testproben dargestellt und diskutiert.
[1] D. Tsankov, K. Hinrichs, E.H. Korte, R. Dietel and A. Röseler, Langmuir 2002, 18, 6559-6564