Dresden 2003 – wissenschaftliches Programm
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TT: Tiefe Temperaturen
TT 20: Postersitzung IV (Mesoskopische Systeme, Supraleitung: Massivmaterialien, Bandleiter, Pinning, Vortexdynamik, Transporteigenschaften, Korngrenzen)
TT 20.6: Poster
Donnerstag, 27. März 2003, 14:30–19:00, P2c, P2d
Elektronischer Transport durch C60 — •T. Böhler, J. Grebing und E. Scheer — FB Physik - Universität Konstanz
Wir stellen ein Experiment zur Messung des differentiellen Leitwerts von einzelnen oder wenigen C60-Molekülen vor, die zwischen einatomaren Spitzen eines mechanisch kontrollierten Bruchkontaktes (MCB) eingebettet werden. Wir verdampfen C60 unter HV-Bedingungen auf einen geöffneten Bruchkontakt und nehmen bei Raumtemperatur Strom-Spannungs-Kennlinien auf. Parallel hierzu werden auch Versuche durchgeführt, bei denen die C60-Moleküle in Lösung auf den MCB aufgebracht werden. Anschließend wird das Lösungsmittel im Vakuum verdampft und bei Raumtemperatur Kennlinien aufgenommen. Als Elektrodenmaterial wird Aluminium bzw. Gold verwendet.
Wir erhoffen uns dadurch einen Vergleich mit theoretischen Voraussagen: Durch die hohe Symmetrie des C60 sind nur zwei verschiedene Konfigurationen wahrscheinlich; das Atom an der Spitze des MCB kann entweder in der Mitte eines Fünf- oder eines Sechseckes liegen[1,2]. Dies sollte sich im Experiment durch zwei unterschiedliche Typen von Kennlinien zeigen. Erste Ergebnisse werden diskutiert.
[1] J.J. Palacios et al., Nanotechnology 12 160 (2001)
[2] R. Gutierrez et al., PRB 65 113410 (2002)