Berlin 2005 – wissenschaftliches Programm
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HL: Halbleiterphysik
HL 58: Poster IIb
HL 58.48: Poster
Dienstag, 8. März 2005, 16:30–19:00, Poster TU F
Nichtinvasive Charakterisierung fabrikationsbedingter Defekte in Solarzellen — •D. Ragusch1, J. Beyer2, E. Cikos3, D. Drung2, S. Rolle1 und Th. Schurig2 — 1Technische Fachhochschule Wildau, Bahnhofstr. 15745 Wildau — 2Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Abbestr. 2-12, 10587 Berlin — 3University Skopje, Macedonia
Das in [1] vorgestellte Messsystem zur berührungslosen Detektion von Fotostromverteilungen und Defekten in Solarzellen, basierend auf der SQUID-Photoscanning Methode [2], wurde von uns im Hinblick auf eine fabrikationsbegleitende Kontrolle weiterentwickelt.
Die Frontseite der zu untersuchenden Solarzelle wird mittels einer geeigneten und amplitudenmodulierten Lichtquelle abgetastet. Die von den Fotoströmen verursachten magnetischen Felder werden von einer Induktionsspule detektiert. Die Ausgangsspannung der Spule wird frequenzselektiv und phasenempfindlich gemessen. Aus diesen Messdaten können Rückschlüsse auf Defekte der Solarzelle gezogen werden.
Um die Eignung des Messsystems für den industriellen Einsatz zu verbessern, wurde die optische Anregung und die Sensorik auf den schnellen Nachweis typischer Defekte, wie Kontaktierungsfehler und Brüche zugeschnitten. Der Messaufbau und die gewonnen Ergebnisse werden vorgestellt.
[1] D.Ragusch et al., Poster, DPG Frühjahrstagung 2002
[2] J.Beyer et al., IEEE Trans.Appl.Supercond., Vol.11, pp. 1162-1167, March 2001