Berlin 2008 – wissenschaftliches Programm
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O: Fachverband Oberflächenphysik
O 43: Poster Session II - MA 141/144 (Surface Spectroscopy on Kondo Systems; Frontiers of Surface Sensitive Electron Microscopy; Methods: Scanning Probe Techniques+Electronic Structure Theory+Other; Time-Resolved Spectroscopy of Surface Dynamics with EUV and XUV Radiation; joined by SYNF posters)
O 43.12: Poster
Dienstag, 26. Februar 2008, 18:30–19:30, Poster F
Einfluss der elektronischen Struktur der Tunnelspitze auf spektroskopische Messungen — •Oliver Ferdinand, Kirsten von Bergmann, André Kubetzka, and Roland Wiesendanger — Institut für Angewandte Physik, Universität Hamburg, D-20355 Hamburg
Die Raster-Tunnel-Spektroskopie (RTS) misst die lokale differentielle Leitfähigkeit. Diese ist bei kleinen Spannungen in erster Näherung proportional zur lokalen Zustandsdichte (LDOS) beider Elektroden, Probe und Tunnelspitze, und mathematisch eine mit dem Transmissionskoeffizienten gewichtete Faltung beider LDOS. Gerade wenn der relevante Bereich um das Fermi-Niveau EF konzentriert ist, wie z.B. bei Kondo-Systemen oder inelastischen Prozessen, wirken sich daher Oberfläche und Spitze in gleichem Maße auf die gemessenen Spektren aus, so dass eine möglichst strukturlose LDOS der Tunnelspitze erforderlich ist.
Es wird gezeigt, dass sich verschiedene Spitzen-Materialien unterschiedlich auf die Spektren auswirken. Dazu wurden Wolfram, Iridium und Gold verwendet und sowohl in-situ als auch ex-situ [1] Präparationsverfahren ausprobiert.
[1] A. J. Melmed, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 601 (1991)