Berlin 2008 – wissenschaftliches Programm

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O: Fachverband Oberflächenphysik

O 94: Methods: Other Experimental Techniques II

O 94.1: Vortrag

Freitag, 29. Februar 2008, 12:00–12:15, MA 141

In situ Präparation von kristallographisch orientierten Spitzen in der Rasterkraftmikroskopie — •Thorsten Wutscher, Sebastian Gritschneder und Franz J. Giessibl — Universität Regensburg, Institut für Experimentelle und Angewandte Physik, 93 040 Regensburg

Die atomare Konfiguration und die chemische Identität der Spitze eines Kraftmikroskops ist von zentraler Bedeutung für die Abstands- und Winkelabhängigkeit der Kraft zwischen Spitze und Probe [1, 2]. Bisher wurden die Spitzen mittels eines elektrischen Feldes, einer Kollision mit der Probenoberfläche oder durch Ionenbeschuss präpariert. Hier wird versucht in situ eine saubere und kristallographisch wohldefinierte Spitze aus leicht spaltbaren Materialien herzustellen. Für Nickeloxid, ein Material mit Kochsalzstruktur, wurden drei unterschiedliche Spaltgeometrien entwickelt. Die mit einer Wafersäge bearbeiteten Nickeloxidstücke werden als Balken und Würfel auf einem stabilen Quarzfederbalken (qPlus Sensor) kristallographisch orientiert fixiert. Eine auf gesägte Sollbruchstellen wirkende Kraft leitet das Spalten in einer oder mehrerer Ebenen ein. Die Eignung der dadurch entstehenden Spitzen für hochauflösende Kraftmikroskopie wird durch erste Resultate atomarer Auflösung auf NiO (0 0 1) demonstriert.
Yoshiaki Sugimoto, Pablo Pou, Masayuki Abe, Pavel Jelinek, Rubén Pérez, Seizo Morita and Óscar Custance, Nature, Vol. 446, 64 - 67 (2007)
Stefan Hembacher, Franz J. Giessibl, Jochen Mannhart, Science, Vol. 305, 380 - 383 (2004)