T 55: Halbleiterdetektoren II
  Dienstag, 4. März 2008, 16:45–18:50, KGI-HS 1228
  
    
  
  
    
      
        
          
            
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          16:45 | 
          T 55.1 | 
          
            
            
              
                Charakterisierung linearer SiPM-Arrays — •Roman Greim
              
            
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          17:00 | 
          T 55.2 | 
          
            
            
              
                Tests von SiPMs als Photodetektoren für Abbildende Luft-Cherenkov Teleskope (IACT) — •Dominik Neise
              
            
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          17:15 | 
          T 55.3 | 
          
            
            
              
                Development of new types of photo-sensors as an alternative to SiPMs — •Jelena Ninkovic, Rouven Eckhart, Robert Hartmann, Peter Holl, Cristian Koitsch, Gerhard Lutz, Razmik Mirzoyan, Hans-Günther Moser, Rainer Richter, Gerhard Schaller, Florian Schopper, Heike Soltau, Masahiro Teshima, George Valceanu, and Ladisav Andricek
              
            
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          17:30 | 
          T 55.4 | 
          
            
              Gruppenbericht:
            
            
              
                Anwendung von Photodetektoren auf Siliziumbasis in der Positronen Emissions Tomographie — •Martin Göttlich und Erika Garutti
              
            
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          17:50 | 
          T 55.5 | 
          
            
            
              
                Interne Verstärkung und Rauschverhalten von DEPFET-Pixelsensoren — •Stefan Rummel für die DEPFET Collaboration
              
            
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          18:05 | 
          T 55.6 | 
          
            
            
              
                Das DEPFET Prototypsystem für den Vertexdetektor am ILC: Status der Teststrahlaktivitäten — •Lars Reuen, L. Andricieck, P. Fischer, M. Koch, R. Kohrs, H. Krüger, G. Lutz, H.G. Moser, I. Peric, R.H. Richter, S. Rummel, K. Schmieden, L. Strüder und N. Wermes
              
            
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          18:20 | 
          T 55.7 | 
          
            
            
              
                Untersuchungen an einer neuen Generation von DEPFET-Pixelsensoren — •Kristof Schmieden, Lars Reuen, Robert Kohrs, Philipp Hettkamp, Hans Krüger und Norbert Wermers
              
            
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          18:35 | 
          T 55.8 | 
          
            
            
              
                CIX 0.2 - Systemtests und Röntgenmessungen an einem simultan zählenden und integrierenden Pixeldetektor — •Johannes Fink, Edgar Kraft, Manuel Koch, Hans Krüger, Norbert Wermes, Peter Fischer, Ivan Peric und Christoph Herrmann
              
            
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