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P: Fachverband Plasmaphysik

P 11: Poster: Staubige Plasmen

P 11.9: Poster

Tuesday, March 31, 2009, 17:30–19:30, Foyer des IfP

Staubige Plasmen unter Einfluss erhöhter Schwerkraft — •Taalke Ockenga¹, Matthias Wolter¹, Holger Kersten¹, Job Beckers² und Winfred Stoffels² — ¹Christian-Albrechts-Universität zu Kiel, AG Plasmatechnologie — ²Technische Universität Eindhoven, EPG

Die Diagnostik von Plasmen mittels Mikropartikeln als elektrostatische Sonden ist eine relativ neue Methode zur Charakterisierung von Prozessplasmen.

Werden Mikropartikel in ein Plasma gebracht, können sie durch ein Kräftegleichgewicht aus elektrischer Feldkraft und Gewichtskraft im Bereich der Plasmarandschicht eingefangen werden.

In den Experimenten wurden monodisperse Partikel (r = 5..12 Mikrometer) in eine HF-Entladung eingebracht und über der unteren (gepowerten) Elektrode eingefangen. Das gesamte Experiment konnte auf einer Zentrifuge installiert werden, wodurch die Schwerkraft bis zu einem Faktor von 2,6 erhöht werden konnte. Durch den Einfluss dieser zusätzlichen Kraft veränderten die Partikel ihre Position in der Randschicht. Durch die Bestimmung der Einfanghöhe der Partikel und deren Veränderung unter verschiedenen Schwerkraftbedingungen sollte es möglich sein, Rückschlüsse auf das Plasma zu ziehen. Ziel ist es, einen Zugang zu den Plasmaparametern (Temperatur, Dichte, etc.) zu erhalten, ohne eine lokale Störung (z.B. durch Langmuir-Sonden) zu verursachen.

Es werden Ergebnisse der Messungen gezeigt und ein Vergleich mit ersten Resultaten aus der Simulation gegeben.