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T: Fachverband Teilchenphysik

T 88: Halbleiter 5

T 88.8: Talk

Wednesday, March 26, 2014, 18:30–18:45, P109a

Aufbau eines TCT-MessstandesLars Graber, Jörn Große-Knetter, •Christoph Klein, Arnulf Quadt und Jens Weingarten — II. Physikalisches Institut, Georg-August-Universität Göttingen

Ein wichtiger Schritt zur Entwicklung von Halbleiterdetektoren für die Teilchenphysik ist die Bestimmung der elektrischen Eigenschaften, insbesondere der mittleren freien Weglänge der generierten Ladungsträger. Die „Transient Current Technique“ (TCT) stellt dabei eine effektive Möglichkeit dar, diese charakteristische Größe zu messen. Bei dieser Messmethode wird das von den Ladungsträgern induzierte Stromsignal in einem externen elektrischen Feld mit hoher Zeitauflösung gemessen und aus der Signalform die Lebensdauer und Driftgeschwindigkeit bestimmt.

Im Rahmen dieses Vortrages soll die Realisierung eines Aufbaus für TCT-Messungen im Hinblick auf die Verwendung zur Charakterisierung von Silizium- und Diamantdetektoren, sowie Messergebnisse für verschiedene Proben dieser Materialien vorgestellt werden.

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