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Wuppertal 2015 – scientific programme

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 63: Halbleiter: Strahlenhärte

Wednesday, March 11, 2015, 16:45–19:00, G.10.05 (HS 7)

16:45 T 63.1 Towards a new radiation model for proton-induced defects in silicon — •Elena Donegani, Eckhart Fretwurst, Erika Garutti, Alexandra Junkes, and Joern Schwandt
17:00 T 63.2 Investigation of the insulator layers for segmented silicon sensors before and after X-ray irradiation — •Ioannis Kopsalis, Dominik Brueske, Erika Garutti, Robert Klanner, Joern Schwandt, Khai Ton That, and Jiaguo Zhang
  17:15 T 63.3 Der Beitrag wurde abgesagt (Dopplung mit T 35.9).
17:30 T 63.4 Untersuchung der Depletionsspannung bestrahlter und unbestrahlter planarer n+-in-n Silizium-ATLAS-PixelsensorenMona Abt, Silke Altenheiner, Karola Dette, Andreas Gisen, Claus Gössling, Jara Helmig, Jennifer Jentzsch, Reiner Klingenberg, Kevin Kröninger, Arno Kompatscher und •Felix Wizemann
17:45 T 63.5 Annealing bestrahlter planarer n+-in-n ATLAS Pixel SiliziumsensorenMona Abt, Silke Altenheiner, Karola Dette, •Andreas Gisen, Claus Gößling, Jara Helmig, Jennifer Jentzsch, Reiner Klingenberg, Kevin Kröninger, Arno Kompatscher und Felix Wizemann
18:00 T 63.6 Vergleich der Strahlenhärte von 3D- und dünnen planaren Pixelsensoren für das Phase II Upgrade des CMS-ExperimentsThomas Blank, Felix Bögelspacher, Michele Caselle, Alexander Dierlamm, Benedikt Freund, Simon Kudella, Thomas Müller und •Daniel Schell
18:15 T 63.7 Characterization of thin irradiated epitaxial silicon sensors for the CMS phase II pixel 2 upgrade — •Matteo Centis Vignali, Doris Eckstein, Thomas Eichhorn, Erika Garutti, Alexandra Junkes, and Georg Steinbrück
18:30 T 63.8 Investigation of the electric field in irradiated diamond sensors — •Florian Kassel, Tobias Barvich, Wim de Boer, Anne Dabrowski, Alexander Dierlamm, Robert Eber, Moritz Guthoff, Andreas Nürnberg, and Pia Steck
18:45 T 63.9 Untersuchung der Temperatur- sowie der Bestrahlungsabhängigkeit von Silizium-Photodetektoren — •David Gerick für die LHCb Kollaboration
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