T 706: Halbleiterdetektoren V
Friday, March 21, 1997, 09:45–10:45, 223
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09:45 |
T 706.1 |
Halbleiterdetektoren aus semiisolierendem SiC — •R. Irsigler, R. Geppert, M. Göppert, J. Ludwig, M. Rogalla, K. Runge, Th. Schmid, A. Söldner-Rembold, M. Webel und C. Weber
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10:00 |
T 706.2 |
Untersuchungen an CVD-Diamant mit ionisierender Strahlung — •A. Oh, J. Steuerer, A. Wagner und W. Zeuner
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10:15 |
T 706.3 |
Untersuchung tiefer Störstellen in Siliziumdetektoren mittels laserinduzierter TCT - Messungen — •Uwe Bokelbrink, H. Feick, E. Fretwurst, G. Lindström und M. Moll
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10:30 |
T 706.4 |
IR-Spektroskopie und TDCM-Messungen an Protonen und Pionen bestrahltem GaAs — •M. Battke, M. Rogalla, R. Geppert, R. Göppert, M. Hornung, R. Irsigler, J. Ludwig, K. Runge, Th. Schmid, M. Webel und C. Weber
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