DS 10: Charakterisierungsverfahren I
Dienstag, 24. März 1998, 16:45–17:30, H 31
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16:45 |
DS 10.1 |
Fachvortrag:
Tiefenprofilanalyse leichter Elemente mit Monolagen Auflösung unter Verwendung hochenergetischer Ionen — •G. Dollinger, Christoph Frey, Andreas Bergmaier und Thomas Faestermann
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17:00 |
DS 10.2 |
Fachvortrag:
Ortsaufgelöste Röntgenabsorptionsspektroskopie an dünnen Kohlenstoffschichten — •Ch. Ziethen, O. Schmidt, G. Marx, G. Schoenhense, R. Frömter, J. Gilles, D. Hartmann, O. Gröning, C.M. Schneider und J. Kirschner
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17:15 |
DS 10.3 |
Fachvortrag:
Untersuchung von XPS-TOF Analysen mit Pinchplasma-Röntgenquellen — •O. Rosier, K. Bergmann, G. Schriever, G. Schönhense, M. Merkel und R. Lebert
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