Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm
Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe
O: Oberflächenphysik
O 34: Poster (II)
O 34.69: Poster
Donnerstag, 26. März 1998, 20:00–22:30, Bereich C
IR-Kontrast in der optischen Nahfeldmikroskopie — •Bernhard Knoll, Fritz Keilmann und Reinhard Guckenberger — Max-Planck-Institut für Biochemie, D-82152 Martinsried
Im Gegensatz zur optischen Nahfeldmikroskopie im Sichtbaren können Apertursonden im mittleren Infrarot wegen der zu hohen Cutoff-Verluste nicht eingesetzt werden. Stattdessen verwenden wir die Spitze unseres AFM als Streuzentrum für CO2-Laserstrahlung. Dieses Konzept der aperturlosen Sonde hat bereits im Sichtbaren [1], sowie bei Mikrowellen [2] zu hoher Auflösung weit unterhalb der Wellenlänge geführt.
Wir zeigen und analysieren IR-mikroskopische Bilder von dielektrischen und metallischen Oberflächen. Dabei unterscheiden wir qualitativ und quantitativ zwischen reinem IR-Kontrast und Artefakten, die durch die AFM-Regelung induziert werden. Die Ergebnisse beweisen materialabhängigen Kontrast bei gleichzeitig hoher räumlicher Auflösung (< 100 nm).
[1] Y. Martin, F. Zenhausern, H. K. Wickramasinghe, Appl. Phys. Lett. 68 2475 (1996).
[2] B. Knoll, F. Keilmann, A. Kramer, R. Guckenberger, Appl. Phys. Lett. 70 2667 (1997).