T 609: Halbleiterdetektoren 5
Donnerstag, 18. März 1999, 16:30–18:30, TE12
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16:30 |
T 609.1 |
Die Siliziumstreifendetektoren des ZEUS Mikrovertexdetektors — •Dominik Dannheim
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16:45 |
T 609.2 |
Aufbau einer Testanlage für Mikrostreifendetektoren — •Marcus Schilling, Peter Blüm, Frank Hartmann, Kurt Kärcher, Thomas Müller, Hans-Jürgen Simonis und Wolf Hagen Thümmel
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17:00 |
T 609.3 |
Test-beam Results on CMS Silicon Tracker Prototype Detectors — •S. Piperov
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17:15 |
T 609.4 |
Der Silizium Vertexdetektor des BaBar Experimentes — •Ariane Frey
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17:30 |
T 609.5 |
DEPJFET Silizium-Pixel-Detektoren — •Wolfgang Neeser, Matthias Böcker, Peter Buchholz, Peter Fischer, Nikolas Hörnel, Peter Klein, Mario Löcker, Gerhard Lutz, Ingo Schäfer, Marcel Trimpl, Johannes Ulrici und Norbert Wermes
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17:45 |
T 609.6 |
Erste Ergebnisse dynamischer Messungen an weiterentwickelten DEPFET-Detektoren — •Peter Klein, M. Böcker, P. Buchholz, I. Schäfer, M. Trimpl, J. Kemmer, G. Lutz, N. Hörnel, D. Stötter, L. Strüder, P. Fischer, M. Löcker, W. Neeser, J. Ulrici und N. Wermes
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18:00 |
T 609.7 |
Messung des Lorentzwinkels in Silizium Detektoren — •Stephan Heising, W. de Boer, E. Grigoriev und F. Röderer
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18:15 |
T 609.8 |
Teststrahlmessungen am ATLAS-Pixeldetektor — •T. Harenberg, K.-H. Becks und C. Linder
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