Dresden 2003 – wissenschaftliches Programm
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O: Oberflächenphysik
O 16: Oxide und Isolatoren I
O 16.2: Vortrag
Dienstag, 25. März 2003, 11:30–11:45, FOE/ANOR
Periodische Verzerrung epitaktischer SiO2 Schichten auf Mo(112) — •A. Stierle1, C. Tieg1, H. Dosch1, T. Schröder2, J. Giorgi2 und H.-J. Freund2 — 1MPI für Metallforschung, Heisenbergstr. 3, D-70569 Stuttgart — 2Fitz-Haber-Institut der MPG, Faradayweg 4-6, D-14195 Berlin
Ultradünne, epitaktische SiO2 Filme auf Mo(112) Oberflächen stellen ein neuartiges Trägersystem für Modellkatalysatoren dar [1]. Um eine detailierte Strukturanalyse der SiO2 Schichten zu erreichen, haben wir Experimente mit Oberflächenröntgenbeugung an der Europäischen Synchrotronstrahlungsquelle (ESRF) in Grenoble (Strahlführung ID3) durchgeführt. Zusätzlich zu der aus LEED bekannten c(2x2) Überstruktur konnten entlang der Substrat [11 0] Richtung in konstantem Abstand zu Überstrukturreflexen Satelliten beobachtet werden, deren Intensität mit wachsendem Impulsübertrag in der Ebene ansteigt. Dieses Verhalten wird mit einer periodischen Modulation der Filmgitterkonstanten erklärt. Weiterhin liefern die Messungen detailierte Information über die Struktur der Oxidschicht und der Grenzfläche zum Mo Substrat.
[1] T. Schröder, M. Adelt, B. Richter, M. Naschitzki, M. Bäumer, H.-J. Freund, Surf. Rev. Lett. 7, 7 (2000).