Berlin 2008 – wissenschaftliches Programm
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HL: Fachverband Halbleiterphysik
HL 53: Optical properties
HL 53.4: Vortrag
Freitag, 29. Februar 2008, 11:15–11:30, EW 201
Die Strichlängenmethode: Verbesserte Auswertung — •Michael Schwalm1, Christoph Lange1, Sangam Chatterjee1, Wolfgang W. Rühle1, Nils Gerhardt2, Shane R. Johnson3, Jiangbo Wang3 und Young-Hang Zhang3 — 1Fachbereich Physik, Philipps-Universität Marburg — 2AG Optoelektronische Bauelemente und Werkstoffe, Ruhr-Universität Bochum — 3Center for Solid State Electronics Research and Department of Electrical Engineering, Arizona State University
Die Strichlängenmethode ist ein einfaches Verfahren zur Bestimmung der optischen Verstärkung beziehungsweise Abschwächung eines Mediums unter konstanten Anregungsbedingungen. Für die Auswertung der gewonnenen Messdaten standen in der Vergangenheit zwei verschiedenartige Auswertungskonzepte zur Verfügung, die in der praktischen Anwendung einige Probleme offenbarten.
Diese Probleme werden analysiert und neue, alternative Auswertungsverfahren entwickelt. Anhand theoretischer Betrachtungen im Rahmen der Fehlerfortpflanzung lassen sich Rückschlüsse auf die Rauschanfälligkeiten der neuen Methoden ziehen. Die Anwendung auf experimentelle Rohdaten erlaubt eine vergleichende Bewertung unter realen Bedingungen.
Die neu entwickelte “l/xl“-Methode erweist sich hierbei als ein robustes und verlässliches Verfahren, welches über einen breiten Bereich optischer Verstärkung, beziehungsweise Abschwächung einsetzbar ist und die Probleme der früheren Methoden umgeht [1].
[1] C. Lange et. al., Appl. Phys. Lett. 91, 191107 (2007)