Kiel 2011 – wissenschaftliches Programm

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P: Fachverband Plasmaphysik

P 4: Dichte Plasmen / Schwerionen- und Laserplasmen

P 4.8: Vortrag

Dienstag, 29. März 2011, 12:45–13:00, HS C

Bestimmung von Elektronenstoßionisationsquerschnitten hochgeladener Eisenionen über Ionenextraktionsmessungen an einer EBIS — •Robert Mertzig¹, Alexandra Thorn¹, Falk Ullmann² und Günter Zschornack¹ — ¹Institut für Festkörperphysik, Technische Universität Dresden, Germany — ²Dreebit GmbH, Dresden, Germany

Experimente mit in Elektronenstrahlionenquellen erzeugten, hochgeladenen Ionen bieten hervorragende Möglichkeiten, Atomdaten für die Plasma- und Astrophysik präzise zu messen und theoretische Modelle zur Beschreibung der Struktur hochgeladener Ionen und dynamischer Prozesse mit involvierten hochgeladenen Ionen zu prüfen. Wir berichten über Ionenextraktionsexperimente an einer EBIS (Electron Beam Ion Source) - Ionenquelle mit dem Ziel, Elektronenstoßionisationsquerschnitte von hochgeladenen Eisenionen zu bestimmen. Untersucht wird die Einfachionisation von Fe¹⁶⁺ bis Fe²³⁺ im Elektronenenergiebereich von 15 keV bis 20 keV. Dazu erfolgten Messungen an einer Ionenquelle des Typs Dresden EBIS - A, bei denen für unterschiedliche Ionisationszeiten die korrespondierenden Intensitäten der ladungszustandsseparierten, extrahierten Ionen vermessen wurden. Aus diesen Zusammenhängen kann der Elektronenstoßionisationsquerschnitt bestimmt werden. Experimentell gewonnene Ergebnisse werden vorgestellt und im Vergleich mit gängigen Theorien diskutiert. Darüber hinaus wird gezeigt, dass die beschriebene Methode Möglichkeiten zur Messung von Elektronenstoßionisationsquerschnitten für hochgeladene Ionen unterschiedlichster Elemente bietet.