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DS: Fachverband Dünne Schichten

DS 9: Optical Analysis of Thin Films

Montag, 16. März 2020, 15:00–16:15, CHE 91

  15:00 DS 9.1 The contribution has been moved to DS 24.6.
15:15 DS 9.2 Validation of Optical Constants in the EUV Spectral Range — •Qais Saadeh, Victor Soltwisch, Frank Scholtze, and Philipp Naujok
15:30 DS 9.3 Grazing incidence X-ray fluorescence measurement on nanostructures for element sensitive reconstruction — •Anna Andrle, Philipp Hönicke, Philipp-Immanuel Schneider, Yves Kayser, Martin Hammerschmidt, Sven Burger, Frank Scholze, Burkhard Beckhoff, and Victor Soltwisch
15:45 DS 9.4 Ultrafast time-resolved spectroscopic ellipsometry user station at ELI-Beamlines — •Martin Zahradník
16:00 DS 9.5 Excitonic Wave Function Reconstruction from Near-Field Spectra Using Machine Learning TechniquesFulu Zheng and •Alexander Eisfeld
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