O 15: Raster-Kraft-Mikroskopie II
Dienstag, 18. März 1997, 09:30–11:15, BOT
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09:30 |
O 15.1 |
Ein Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskop mit interferometrischer Auslenkungsdetektion — •R. Euler, U. Memmert und U. Hartmann
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09:45 |
O 15.2 |
True atomic resolution on the surface of an insulator via ultrahigh vacuum dynamic force microscopy — •M. BAMMERLIN, R. LÜTHI, E. MEYER, J. LÜ, M. GUGGISBERG, T. LEHMANN, L. HOWALD, and H.-J. GÜNTHERODT
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10:00 |
O 15.3 |
LOCAL CONTACT POTENTIAL MEASUREMENTS ACROSS STEPS OF THE Si(111)7×7 SURFACE IN ULTRAHIGH VACUUM — •M. GUGGISBERG, M. BAMMERLIN, R. LÜTHI, F. BATTISTON, J. LÜ, C. LOPPACHER, E. MEYER, and H.-J. GÜNTHERODT
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10:15 |
O 15.4 |
Vergleichende quantitative Lateralkraftmikroskopie auf Kohlenstoffverbindungen an Luft und in Argon-Schutzgasatmosphäre — •U. D. Schwarz, O. Zwörner, P. Köster, and R. Wiesendanger
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10:30 |
O 15.5 |
Ein Modell zum Lateralkraftmikroskop — •H. Hölscher, U. D. Schwarz, and R. Wiesendanger
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10:45 |
O 15.6 |
Spektroskopische Messungen und chemische Identifizierung an Nanogrammproben mittels Magnetresonanzkraftmikroskopie — •D. Pudlatz und H. Fuchs
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11:00 |
O 15.7 |
Scanning Electrical Force Microscopy und deren Anwendung — •F. Müller, A.-D. Müller und M. Hietschold
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