Münster 1997 –
            
              wissenschaftliches Programm
            
          
        
        
        
        
        
      
      
  
    
  
  O 41: Nanostrukturen
  Freitag, 21. März 1997, 11:15–13:00, PC 4
  
    
  
  
    
      
        
          
            
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          11:15 | 
          O 41.1 | 
          
            
            
              
                Nanostrukturierung und Charakterisierung von Brücken- und Doppelbrückenstrukturen mittels Rastersondenverfahren — •A. Drechsler und U. Hartmann
              
            
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          11:30 | 
          O 41.2 | 
          
            
            
              
                Atomlithographische Erzeugung von Nanostrukturen — •Th. Schulze, U. Drodofsky, J. Stuhler, B. Brezger, T. Pfau und J. Mlynek
              
            
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          11:45 | 
          O 41.3 | 
          
            
            
              
                Elementare Schritte der Manipulation einzelner Atome/Moleküle mit dem Tieftemperatur-STM — •Ludwig Bartels, Gerhard Meyer und Karl-Heinz Rieder
              
            
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          12:00 | 
          O 41.4 | 
          
            
            
              
                Elektrische Eigenschaften mit Rastertunnellithographie hergestellter metallischer Leiterbahnen — •J. Kretz, I. Mönch, H. Vinzelberg, H. Brückl und G. Reiss
              
            
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          12:15 | 
          O 41.5 | 
          
            
            
              
                Einfluß der Topographie auf die Adhäsion bei Messungen mit dem AFM — •Th. Stifter, E. Weilandt und O. Marti
              
            
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          12:30 | 
          O 41.6 | 
          
            
            
              
                Herstellung von Nano-Dot-Arrays mittels Nanokugellithographie und Charakterisierung mittels Rastersondenmikroskopie — •M. Kleiber, M. Winzer, N. Dix und R. Wiesendanger
              
            
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          12:45 | 
          O 41.7 | 
          
            
            
              
                Morphologie und optische Eigenschaften von Si-Nanostrukturen auf CaF2 — •A. Iline, M. Andersson, F. Stietz und F. Träger
              
            
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