Dresden 2003 – wissenschaftliches Programm

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DS: Dünne Schichten

DS 1: FV-internes Symposium „Dünnschichtanalytik“ I

Montag, 24. März 2003, 09:30–12:50, GER/37

	09:30	DS 1.1	Hauptvortrag: Stress, strain and magnetic anisotropy: all is different in nanometer thin films — •Dirk Sander
	10:10	DS 1.2	Hauptvortrag: Scanning probe methods for thin film analysis — •Mathias Getzlaff
	10:50	DS 1.3	Hauptvortrag: Orts- und zeitaufgelöste Analytik dünnster Schichtsysteme — •Christian Ziethen
	11:30	DS 1.4	Hauptvortrag: Depth microscopy on ultra thin layers using energetic ion beams — •Günther Dollinger
	12:10	DS 1.5	Hauptvortrag: A Sharp Eye on Thin Films - Advances Through Synchrotron Radiation — •Ralf Röhlsberger