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O: Oberflächenphysik

O 30: Methodisches (Experiment und Theorie)

Donnerstag, 27. März 2003, 11:15–13:00, M\"UL/ELCH

11:15 O 30.1 Total and Partial Electron Yield X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) under Ambient Conditions - a Variety of Applications using Gas Microstrip Detectors — •A. Vollmer, J.D. Lipp, H. Weiss, and T. Rayment
11:30 O 30.2 NMR chemical shift measurements of 129Xe on single crystal surfaces — •P. Gerhard, M. Koch, D. Fick, and H.J. Jänsch
11:45 O 30.3 Anlage zur positroneninduzierten Auger-Elektronenspektroskopie — •Benno Straßer, Christoph Hugenschmidt und Klaus Schreckenbach
12:00 O 30.4 Femtosekundenlaser-Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop — •Michael Mehlhorn, Karina Morgenstern und Karl-Heinz Rieder
12:15 O 30.5 X-ray standing waves in kinematical approximation — •Martin Tolkiehn and Dmitri Novikov
12:30 O 30.6 Aberration corrected spectromicroscopy with energy filtering: the SMART project — •Th. Schmidt, U. Groh, R. Fink, E. Umbach, H. Marchetto, O. Schaff, W. Engel, H. Kuhlenbeck, A.M. Bradshaw, R. Schlögl, H.-J. Freund, P. Hartel, R. Spehr, H. Rose, G. Lilienkamp, E. Bauer, G. Benner, and D. Preikszas
12:45 O 30.7 Hochauflösende Transmissions-Photoelektronen-Mikroskopie im weichen Röntgenbereich — •Martin Pohl, Ulf Kleineberg und Ulrich Heinzmann
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