DS 9: Dünnschichtanalytik II
Montag, 8. März 2004, 15:15–17:15, HS 32
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15:15 |
DS 9.1 |
Untersuchung der Titan-Koordination in strukturell modulierten Einkristallen und Gläsern der Zusammensetzung A2TiX2O8 (mit A = Ba, Sr und X = Si, Ge) — •Thomas Höche, Frank Heyroth, Ralf Keding und Peter van Aken
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15:30 |
DS 9.2 |
Diffraction patterns of modulated permutation twins — •Ulrich Gebhardt, P. Wochner, A. Vigliante, H.U. Habermeier, and F. Razavi
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15:45 |
DS 9.3 |
Structure and thickness-dependant lattice parameters of ultra-thin epitaxial Pr2O3 films on Si(001) studied by SR-GIXRD — •Thomas Schroeder, Tien Lin Lee, Laure Libralesso, Jörg Zegenhagen, Peter Zaumseil, Christian Wenger, and Hans Joachim Müssig
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16:00 |
DS 9.4 |
Investigations of Pr2O3 growth modes on 4H-SiC(0001) Surfaces — •Andriy Goryachko, Guido Beuckert, Peter Zaumseil, Guenter Wagner, and Dieter Schmeisser
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16:15 |
DS 9.5 |
Mainfold nonosized metallic composites preparation and theoretical simulations. — •Witold Kandulski and Adam Kosiorek
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16:30 |
DS 9.6 |
Examination of diamond seed-layers on Ir/ SrTiO3 using Scanning Electron Microscopy and Auger Electron Spectroscopy — •P Bernhard, Ch. Ziethen, M. Schreck, S. Gsell, H. Karl, G. Schaefer und S. Schoenhense
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16:45 |
DS 9.7 |
In situ Prozessanalytik mit Hilfe der Ramanstreuung und der spektroskopischen Ellipsometrie — •M. Schubert, N. Ashkenov, C. Bundesmann, M. Lorenz, M. Grundmann, E. Schubert, H. Neumann, B. Rauschenbach, A. Braun und G. Lippold
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17:00 |
DS 9.8 |
Impact of design parameters of coupled parallel beam X-ray mirrors and channel cut monochromators on divergence, beam width and monochromacy — •T. Holz, D. Korytar, and T. Böttger
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