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DS 24.1 |
In situ ATR-FTIR absorption spectroscopy on plasma deposited silicon thin films — •Peter van den Oever, Iain Houston, Junegie Hong, Erwin Kessels, and Richard van de Sanden
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DS 24.2 |
Einfluss der Beschichtungsparameter des modifizierten Puls-Arc-Verfahrens auf das Beschichtungsplasma und die Schichteigenschaften — •Karola Keutel und Enrico Hettkamp
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DS 24.3 |
Thermionic Vacuum Arc,a new type of discharge for deposition of nanostructured carbon films — •Cristian Cudalbu, Geavit Musa, and Ion Mustata
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DS 24.4 |
Tiefenselektive Phasenanalyse in Fe-implantierten GaN-Oberflächen mittels DCEMS — •M. Walterfang, W. Keune und H. Reuther
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DS 24.5 |
Properties of Laser Deposited Polymer-Metal Composites — •J. Faupel, E. Süske, T. Scharf, H.-U. Krebs, F. Quondamatteo, R. Herken, D. Nelke, E. Pachenko, and M. Buback
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DS 24.6 |
Wachstum dünner PrxOy-Schichten auf Si(100) mittels PLD: Einfluss der Wachstumsparameter — •Mathias Kappa, Dirk Wolfframm, Markus Ratzke und Jürgen Reif
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DS 24.7 |
Herstellung von SiC und B4C/SiC - Schichten mittels Laserablation und Charakterisierung — •Timo Körner, Andreas Heinrich und Bernd Stritzker
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DS 24.8 |
Grenzflächen unter Beschuss: Hochenergie-Ionenmischen — •M. Beuttler, B. Schattat, T. Renz, C. Rumbolz, J. Wiesner, D. Etissa-Debissa, A. Elsanousi, H. Paulus, S. Klaumünzer und W. Bolse
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DS 24.9 |
Investigation of the ion acoustic effect in solids using high energy pulsed ion beam — •Chavkat Akhmadaliev and Lothar Bischoff
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DS 24.10 |
Ion beam assisted smoothing of optical surfaces — •Frank Frost, Renate Fechner, Dieter Flamm, Bashkim Ziberi, Axel Schindler, and Bernd Rauschenbach
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DS 24.11 |
Evolution of Si surface topography during low-energy ion beam erosion — •Bashkim Ziberi, Frank Frost, and Bernd Rauschenbach
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DS 24.12 |
Photoemission Investigations of Nitrided III-V Semiconductor Surfaces - Resonant Photoemission and Time-Dependent Effects — •J.-D. Hecht, L. Zhang, F. Frost, and T. Chassé
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DS 24.13 |
Einfluss der Anregungsfrequenz bei der Sputterdeposition auf Morphologie und elektrische Eigenschaften dünner Schichten — •Ralph Träger, Klaus Bethe und Meinhard Schilling
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DS 24.14 |
M-Effect: monocromatization of the emission spectra of an electropositive-electronegative gas mixture — •Bianca Cudalbu, Alexandra Baltog, and Geavit Musa
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DS 24.15 |
Massenspektrometrische Untersuchungen in einer DC-Magnetronentladung — •Stefan Wrehde, Oleg Zhigalov, Hartmut Steffen und Rainer Hippler
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DS 24.16 |
RHEED Untersuchungen beim heteroepitaktischem Wachstum von YBa2Cu3O7 — •Matthias Karger und Meinhard Schilling
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DS 24.17 |
STM - Untersuchungen zu Keimbildung und Keimwachstum von Cu und Co auf Au(111) - Elektroden — •Andreas Krause, Margitta Uhlemann, Annett Gebert und Ludwig Schultz
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DS 24.18 |
Growth and structural properties of ZnO thin films on Al2O3 and Au on ZnO — •Murat Ay, Alexei Nefedov, and Hartmut Zabel
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DS 24.19 |
Mechanisms of ion-beam assisted deposition: comparing yttria-stabilized zirconia and gadolinium-zirconia — •Christian Thiele, Lars-Oliver Kautschor, Sibylle Sievers, Jörg Hoffmann, and Herbert C. Freyhardt
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DS 24.20 |
TEM investigations on texture development during the growth of IBAD YSZ films — •Sibylle Sievers, Lars-Oliver Kautschor, Jörg Hoffmann, and Herbert C. Freyhardt
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DS 24.21 |
Investigation of the correlation between stress and nucleation at the deposition of hard carbon thin films — •Nicolas Wöhrl, Stephan Reuter, and Volker Buck
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DS 24.22 |
Structure and annealing of C60 films — •Steffen Schulze, Oksana Dmytrenko, M. Kulish, Michael Hietschold, and Yu. Prylutskyy
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DS 24.23 |
Structural and optical characterisation of quartz-deposited amorphous SiC:H- thin films grown by precursor pyrolysis. — •O. Sciurova, J.R. Niklas, A. Hilbig, E. Müller, R. Wenzel, K. Trommer, and G. Roewer
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DS 24.24 |
Influence of particle and energy influx on ITO film formation by reactive dc magnetron sputtering — •Marion Quaas, Hartmut Steffen, Rainer Hippler, and Harm Wulff
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DS 24.25 |
Properties of zirconium oxynitride films — •James Mbiyu Ngaruiya, Oliver Kappertz, Selvaraj Venkataraj, Robert Drese, Tom Pedersen, and Matthias Wuttig
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DS 24.26 |
Characterization of the Stoichiometry of Thin ILGAR-ZnO Layers by Heavy-Ion ERDA — •Erik Strub, Marcus Bär, Wolfgang Bohne, Christian-Herbert Fischer, Beate Leupolt, Swen Lindner, Jörg Röhrich, and Bolko Schöneich
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DS 24.27 |
Diagnostics of Polymer Films Deposited in Dielectric Barrier Discharge (DBD) in Ar/CxFy mixtures — •I. P. Vinogradov, M. Shakhatre, and A. Lunk
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DS 24.28 |
Stress evolution during sputter deposition of Cu thin films: Effects of sputter deposition conditions — •Mirela Pletea, Winfried Brückner, Horst Wendrock, Rainer Kaltofen, and Claus M. Schneider
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DS 24.29 |
Untersuchungen des Korrosionsschutzes von ultradünnen Kohlenstoffschichten für Festspeicherplatten mittels mikro-XANES und mikro-XPS — •P. Bernhard, Ch. Ziethen, R. Ohr, F. Senf, H. Hilgers und G. Schönhense
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DS 24.30 |
Ein Modell für die Selbstorganisation in ZnS:Mn-Schichten — •S. Zuccaro, Th. Raker, F.-J. Niedernostheide, T. Kuhn und H.-G. Purwins
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DS 24.31 |
Herstellung und Charakterisierung von polykristallinen BaTiO3 Dünnschichten auf MgO für optische Anwendungen. — •Martin Schmid, Adrian Petraru, Opas Trithaveesak, Christian Ohly, Jürgen Schubert und Christoph Buchal
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DS 24.32 |
Gasochromic switching of molybdenum oxide — •John Okumu, Christian Salinga, Tim Niemeier, and Matthias Wuttig
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DS 24.33 |
Optical measurements at cobalt films during nanosecond laser annealing — •Boris Böck, Paul Leiderer, and Bernd-Uwe Runge
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DS 24.34 |
Photoemission of Ag films induced by ultra-short pulse excitation — •A. Gloskovskii, D.A. Valdaitsev, M. Cinchetti, S.A. Nepijko, G. Schönhense, L.V. Viduta, J. Lange, M. Bauer, and M. Aeschlimann
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DS 24.35 |
TOF-PEEM investigation of photoelectron emission from Ag clusters — •D.A. Valdaitsev, M. Cinchetti, A. Gloskovskii, S.A. Nepijko, and G. Schönhense
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DS 24.36 |
Herstellung temperaturstabiler transparenter Oxidschichten — •Olaf Zelesnik
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DS 24.37 |
Diagnostik von h-BN Zwischenschichten durch in situ FTIR-Reflexionsspektroskopie und TEM-Untersuchungen — •Lars Ulrich, Michael Gross, Wilfried Sigle und Achim Lunk
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DS 24.38 |
Plasma-CVD-Synthese von c-BN in fluorhaltigen Gasgemischen — •Michael Gross, Lars Ulrich, Harm Wulff und Achim Lunk
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DS 24.39 |
Eigenschaften von Elektrodenanordnungen auf Glassubstraten und deren Einfluss auf das Auswachsverhalten von Nervenzellen — •A. Reiher, A. Krtschil, H. Witte, A. de Lima, T. Voigt und A. Krost
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DS 24.40 |
Video-microscopy of crystal growth of tetracene in thin liquid films — •Sylvia Dorsfeld, Michael Voigt und Moritz Sokolowski
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DS 24.41 |
Herstellung neuer isolierender Polymerfilme durch Dampfphasenabscheidung — •Christian Kelting, Dieter Wöhrle, Derck Schlettwein und Andreas Hirth
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DS 24.42 |
Organic−Organic Interfaces: Structure, Morphology, and Optical Properties — •J. O. Ossó, F. Schreiber, E. Barrena, M. Garriga, M. I. Alonso, and H. Dosch
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DS 24.43 |
Growth of Aluminiumoxide Insulating Layers on Organic Semiconductors — •S. Sellner, A. Gerlach, F. Schreiber, J. Pflaum, A. Schön, B. Gompf, J. O. Ossó, and H. Dosch
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DS 24.44 |
Analysis of induvidial PTCDA organic molecules on Si(111)-7x7 — •Nicoleta Nicoara, J.M. Gómez-Rodríguez, Javier Méndez, Bernadett Szücs, Zoltán Hajnal, and Thomas Frauenheim
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DS 24.45 |
Nanotemplates based on block copolymer assembles — •Igor Tokarev, Alexander Sidorenko, Sergiy Minko, and Manfred Stamm
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DS 24.46 |
Influence of structural properties on electronic transport in ITO/α-NPD/Ag films — •Jens Pflaum, Norwin von Malm, Stephan Hirschmann, Heinz von Seggern, and Jörg Wrachtrup
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DS 24.47 |
Strukturuntersuchungen von (multi-)lamellaren Phospholipidschichten auf mikrofunktionalisierten Self-Assembled Monolayern (SAM) mittels Röntgenreflektometrie, PEEM und nc-AFM — •Armin Brechling, Michael Sundermann, Martin Pohl, Ulf Kleineberg und Ulrich Heinzmann
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DS 24.48 |
TEM-Untersuchungen an Si-CrSi2 Multilagen — •E. Loos, A. Mogilatenko, D. Decker, G. Beddies, H.-J. Hinneberg und J.S. Schumann
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DS 24.49 |
Microstructure of Al/Ti metallization layers — •Matthias Hofmann, Thomas Gemming, Siegfried Menzel, and Klaus Wetzig
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DS 24.50 |
IN-SITU STUDIES OF GASOCHROMIC SWITCHING — •Christian Salinga, Pascal Meyers, Christoph Liesch, Theofilos Eleftheriadis, Hansjörg Weis, Tom P. L. Pedersen, and Matthias Wuttig
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DS 24.51 |
In-situ Ellipsometrie: Untersuchungen gaschrom schaltbaren Wolframoxids — •François Vertommen, Christian Salinga, Pascal Meyers, Theofilos Eleftheriadis, Oliver Kappertz und Matthias Wuttig
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DS 24.52 |
Beweglichkeit von Wasserstoff in amorphen Si3N4-Schichten — •H. Schmidt, W. Gruber, G. Borchardt, M. Bruns, M. Rudolphi und H. Baumann
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DS 24.53 |
Nanostructuring of multilayers by a thermally driven self assembling process triggered by nanofacetted substrates — •Carsten Herweg, S. Dreyer, J. Hoffmann, S. Sievers, and H. C. Freyhardt
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DS 24.54 |
Interface roughness of laser deposited metal/MgO multilayers — •Christian Fuhse, Andreas Meschede, Satish Vitta, Göran Johansson, and Hans-Ulrich Krebs
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